高速數(shù)據(jù)線纜TDR測(cè)試、4G/5G手機(jī)天線組件測(cè)試、PCB TDR阻抗測(cè)試、印刷線路板TDR測(cè)試
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詳細(xì)介紹
我們自主研發(fā)的“QY射頻微波高頻測(cè)試系統(tǒng)”可顯著簡(jiǎn)化復(fù)雜的多端口測(cè)試設(shè)置，配合自研的軟件系統(tǒng)，可有效提高測(cè)試臺(tái)的測(cè)試效率。該系統(tǒng)可支持廣泛的高頻待測(cè)組件類型，如：高速數(shù)據(jù)線纜TDR測(cè)試、4G/5G手機(jī)天線組件測(cè)試、PCB TDR阻抗測(cè)試、印刷線路板TDR測(cè)試、手機(jī)綜合測(cè)試、其他多端口射頻微波器件高頻測(cè)試等；該測(cè)試系統(tǒng)以其優(yōu)良的兼容性，可在更換測(cè)試治具的條件下，適用于不同產(chǎn)品的測(cè)試需求
聯(lián)系方式
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