用于手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試用，供手機(jī)廠手機(jī)出廠測(cè)試,用于測(cè)試顯示手機(jī)處理器、調(diào)解器版本，顯示話音加密碼、還原通話時(shí)間

手機(jī)測(cè)試卡/手機(jī)測(cè)試白卡/手機(jī)綜測(cè)儀測(cè)試白卡/實(shí)際上都統(tǒng)稱為手機(jī)測(cè)試SIM卡，其被廣泛應(yīng)用于通訊工業(yè)生產(chǎn)及測(cè)試過程。手機(jī)測(cè)試卡本身用于測(cè)試顯示手機(jī)、調(diào)節(jié)器版本，顯示話音加密碼、還原通話時(shí)間和誤碼率等方面的手機(jī)功能性測(cè)試。測(cè)試白卡”是一種手機(jī)測(cè)試SIM白卡，由于其一般顏色為白色，故被俗稱為“白卡”據(jù)悉，現(xiàn)在主要測(cè)試卡有GSM、TD-SCDMA、WCDMA、CDMA、CDMA2000多種網(wǎng)絡(luò)類型的支持。其卡身內(nèi)存常用的有32K/64K/128K，并可根據(jù)不同的測(cè)試需求進(jìn)行定制。

產(chǎn)品詳細(xì)：

手機(jī)測(cè)試白卡、測(cè)試白卡，廣泛應(yīng)用于通訊工業(yè)生產(chǎn)、測(cè)試過程中的使用。配合綜合測(cè)試儀（安捷倫8960、安立、CMU200、CMW500/TD-SCDMA等）對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，需要屏蔽外界不良信號(hào)電波干憂，手機(jī)測(cè)試卡可以對(duì)外界信號(hào)實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑。讓測(cè)試環(huán)境更加簡潔，從而達(dá)到測(cè)試的理想效果。主要測(cè)試的功能有測(cè)試顯示,手機(jī)處理器,調(diào)解器版本,顯示話音加密碼,還原通話時(shí)間 ，可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試等。主要測(cè)試卡有移動(dòng)的GSM、TD-SCDMA,聯(lián)通的WCDMA、電信的CDMA、CDMA2000/EVDO等網(wǎng)絡(luò)測(cè)試卡、試機(jī)卡。

LTE測(cè)試白卡

LTE測(cè)試卡、4G測(cè)試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測(cè)試卡、CDMA測(cè)試卡、UIM測(cè)試卡、RUIM測(cè)試卡、WCDMA手機(jī)測(cè)試、TD-SCDMA測(cè)試卡、CDMA2000測(cè)試卡、手機(jī)測(cè)試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號(hào)測(cè)試（LTE（Long Term Evolution，長期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進(jìn)，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會(huì)議上正式立項(xiàng)并啟動(dòng)。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時(shí)延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國家及地區(qū)***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn)。）。常用于LTE手機(jī)、4G手機(jī)、FDD手機(jī)、GSM手機(jī)、UIM手機(jī)、RUIM手機(jī)、CDMA2000手機(jī)、配合綜合測(cè)試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中需要對(duì)成品進(jìn)行相關(guān)信號(hào)測(cè)試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動(dòng)用更多的人力物力及測(cè)試時(shí)間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測(cè)試卡可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑，讓測(cè)試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。測(cè)試卡可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測(cè)儀測(cè)試等。